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紫外可见近红外分光光度计(UV-VIS-NIR)

更新时间:2019-04-29

简要描述:

TP720型紫外可见近红外分光光度计(UV-VIS-NIR)可覆盖UV-VIS-NIR全波段光谱范围,实现UV-Vis-NIR波段连续扫描,其应用领域广泛,可测量固体/液体样本在紫外-可见-近红外范围内的特征吸收;可研究玻璃镀膜样品吸收/透射或反射光谱;可研究粉末样品在整个紫外可见近红外区的吸收谱图,适合于半导体、光学元件、建筑材料、新型材料等等行业,是功能Z强劲的光谱分析仪器。

  免费咨询:022-88289916/88289917/88289918

  发邮件给我们:tjtp@tjtp.com

TP720型紫外可见近红外分光光度计(UV-VIS-NIR)仪器特点:

  1. 采用经典的Czerny-Turner光学结构,其结构简单、精度高、光谱分辨率良好;
  2. 采用双光栅、双接收器的设计,保证了仪器工作波段可覆盖紫外可见、近红外区(UV-VIS-NIR)全波段的优势;
  3. 接收器件均为进口器件,保证了仪器的高性能和稳定度;
  4. 仪器的控制(如光栅转换、滤光片转换、接收器转换、波长扫描等)全部由计算机控制,接口为 USB2.0,仪器的连接简单,极大的提高了通讯速率;
  5. 狭缝宽度7档可选,分别是(0.1nm、0.2nm、0.5nm、1.0nm、2.0nm、3.0nm、5.0nm)。用户可根据实际需要任意选择。
  6. 全中文操作软件,功能选择简单、易懂。

TP720型紫外可见近红外分光光度计(UV-VIS-NIR)规格参数:

工作波长范围190-2800nm
扫描方式透过率、吸光度、反射率、能量
波长准确度±0.5nm(UV/VIS);±8nm(NIR)
波长重复性0.3nm(UV/VIS); ±4nm(NIR)
采样间隔0.1nm、0.2nm、0.5nm、1nm、1.5nm、2nm、5nm、10nm
光度范围0.300~2.5A
光度准确度±0.3%T(0-100%T)
光度重复性0.2%T
基线平直度±0.008A(200-2500nm,预热30分钟后)
光谱带宽0.2nm-10nm
杂散光≤0.2%T(220nm)
外形尺寸830*600*260mm

TP720型紫外可见近红外分光光度计(UV-VIS-NIR)软件功能:
本仪器工作软件具有丰富的测试分析功能,可进行透过率、吸光度、能量、反射率测量。具有光谱扫描、定点测量、多波长测量的功能。

 

TP720型紫外可见近红外分光光度计(UV-VIS-NIR)仪器成套性:

紫外可见近红外分光光度计主机、USB数据线、石英比色皿、挡零块、应用软件、配套工具等
* 计算机及打印机(需另配)。

TP720型紫外可见近红外分光光度计(
UV-VIS-NIR)可选附件:
专用反射附件、专用固体样品测量附件、专用漫反射样品测量附件

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工厂地址:天津市津南区双港工业园丽港园6号楼3门6层

主营产品:红外压片机,傅里叶红外光谱仪,光栅光谱仪

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